Struktura

Ważnym elementem oceny wizualnej jest struktura. Ostateczny wygląd oraz widoczność struktur na powłoce zależą od wielkości tych struktur, odległości obserwatora oraz zdolności powłoki do odwzorowywania obrazów.  Oferujemy rodzinę strukturomierzy serii wave-scan, które skanują pofalowanie powierzchni powłoki i podobnie jak nasze oczy, rejestrują ciemno-jasny wzór odbicia. Wynikiem tego pomiaru jest tzw. spektrum struktury czyli wykres pokazujący intensywność widocznej skórki pomarańczowej w zależności od odległości obserwacji.

Badanie struktury

Podstawy teoretyczne i zasady pomiaru struktury powierzchni. Skale i parametry informujące o strukturze.

micro-wave-scan

Strukturomierz do pomiaru na małych i zakrzywionych elementach.

wave-scan 3

Strukturomierz do pomiaru na powłokach o wysokim połysku

wave-scan 3 dual

Strukturomierz do pomiaru na powłokach o wysokim i średnim połysku

wave-scan ROBOTIC

Strukturomierz do automatycznego pomiaru powłoki topcoat.

Spectro2profiler - pomiar barwy, połysku, odbicia 2D i struktury 3D powierzchni

Spectro2profiler  to przenośny spektrofotometr do pomiaru barwy, połysku, odbicia światła 2D i profilu struktury 3D na różnych powierzchniach.

Nasza percepcja wizualna obejmuje kolor, połysk i topografię powierzchni jednocześnie.
Przykładowo próbki powłok proszkowych mogą mieć ten sam kolor, ale różne tekstury co znacząco wpływa na ogólny odbiór całej powierzchni (próbki dla naszych oczu wydają się mieć różne wybarwienie). To samo dotyczy powierzchni skóropodobnych. Na przykład próbki elementów wnętrza samochodu o tej samej barwie wykazują różną ziarnistość. To wykończenie powierzchni tak samo wpływa na postrzeganie wykończenia (próbki wydają się mieć różny kolor).

Wniosek: nie wystarczy pomiar samego koloru – należy mierzyć kolor oraz strukturę próbki, aby móc porównać ją ze wzorcem. Spectro2profiler umożliwia obiektywną ocenę takich wykończeń poprzez połączenie różnych technik pomiarowych w jednym urządzeniu:

• pomiar koloru
• pomiar połysku
• pomiar odbicia 2D
• pomiar topografii 3D.