- O firmie
- Aktualności
- Nasi klienci
- Serwis
- Kontakt
- Praca
- Szkolenia
- Pomiar na zlecenie
- Teoria i metody pomiarowe
- Dostawcy
- Produkty
- Barwa / Kolor
- Połysk / Zamglenie
- Przezroczystość / Transparentność
- Struktura
- Chmurzenie
- Mieszanie / Dyspersja
- Rejestracja temperatury
- Optoelektronika
- Grubość
- Przyczepność
- Twardość
- Udar / Tłoczność / Gięcie
- Ścieralność
- Aplikacja / Karty testowe
- Lepkość
- Gęstość
- Ziarnistość
- Czas schnięcia
- Testy korozyjne
- Testy przyspieszonego starzenia
- Wzorce kalibracyjne
Struktura
Ważnym elementem oceny wizualnej jest struktura. Ostateczny wygląd oraz widoczność struktur na powłoce zależą od wielkości tych struktur, odległości obserwatora oraz zdolności powłoki do odwzorowywania obrazów. Oferujemy rodzinę strukturomierzy serii wave-scan, które skanują pofalowanie powierzchni powłoki i podobnie jak nasze oczy, rejestrują ciemno-jasny wzór odbicia. Wynikiem tego pomiaru jest tzw. spektrum struktury czyli wykres pokazujący intensywność widocznej skórki pomarańczowej w zależności od odległości obserwacji.
Badanie struktury
Podstawy teoretyczne i zasady pomiaru struktury powierzchni. Skale i parametry informujące o strukturze.
micro-wave-scan 3
Strukturomierz do pomiaru na małych i zakrzywionych elementach.
wave-scan 3
Strukturomierz do pomiaru na powłokach o wysokim połysku
wave-scan 3 dual
Strukturomierz do pomiaru na powłokach o wysokim i średnim połysku
wave-scan ROBOTIC
Strukturomierz do automatycznego pomiaru powłoki topcoat.
Spectro2profiler - pomiar barwy, połysku, odbicia 2D i struktury 3D powierzchni
Spectro2profiler to przenośny spektrofotometr do pomiaru barwy, połysku, odbicia światła 2D i profilu struktury 3D na różnych powierzchniach.
Spectro2profiler umożliwia obiektywną ocenę wykończeń poprzez połączenie różnych technik pomiarowych w jednym urządzeniu:
• pomiar koloru
• pomiar połysku
• pomiar odbicia 2D
• pomiar topografii 3D.