Obiektywna ocena skórki pomarańczowej oraz DOI na powierzchniach o wysokim i średnim połysku
Wygląd powierzchni zmienia się w zależności od wielkości i wyrazistości struktur powierzchni. Urządzenie wave-scan 3 dual pozwala na obiektywną ocenę skórki pomarańczowej na powierzchniach o wysokim połysku. Urządzenie wave-scan 3 dual skanuje profil optyczny powierzchni za pomocą laserowego źródła światła. Profil ten analizowany jest przy 5 zakresach długości fal od 0,1 do 30 mm (Wa-We). Ponadto wykonywane jest zdjęcie z kamery, aby ocenić właściwości powierzchni spowodowane przez najmniejsze struktury <0,1 mm (du). W ten sposób symuluje się
postrzeganie ludzkiego oka z bliskiej odległości (~ 30 cm) i dużej odległości (~ 2-3 m). Rezultatem pomiaru jest spektrum struktury, które jest podstawą do obliczenia specyficznych parametrów na skalach dedykowanych grupom klienckim dla skórki pomarańczowej oraz współczynnika DOI.
Nowy sposób filtrowania profilu optycznego został opracowany we współpracy z VW/Audi, przy zastosowaniu
metody szybkiej transformacji Fouriera (FFT). Pozwala ona określić intensywność i rozmiary dominujących fal
struktury. Badania korelacji z wrażeniem wizualnym potwierdziły, że obserwatorzy mogą dobrze różnicować
próbki na podstawie dominujących długości fal.
Kolejna generacja urządzeń wave-scan
Nowa generacja wave-scan 3 to nowa konstrukcja z zastosowaniem wyjątkowo dużego, kolorowego wyświetlacza dotykowego oraz intuicyjnym menu umożliwiającym pracę jak ze zwykłym smartfonem. Urządzenie wyposażone zostało w super-szybki układ obliczeniowy co znacznie skraca czas pomiaru, usprawniając znacząco pracę. Długa żywotność baterii optymalizuje czas użytkowania, dzięki czemu można mierzyć wiele samochodów na linii
lub w terenie.
Analiza danych i raporty SPC
Dzięki dołączonemu oprogramowaniu smart-chart można prowadzić analizę danych produkcyjnych na bieżąco oraz szybko tworzyć raporty SPC.
Specyfikacje techniczne |
Zakres pomiarowy |
DOI du |
LW, SW |
Wa – We |
0 – 100 |
0 – 1000 |
0 – 100 |
Spektrum struktury |
du |
Wa |
Wb |
Wc |
Wd |
We |
<0.1 |
0.1 – 0,3 mm |
0,3 – 1,0 mm |
1,0 – 3,0 mm |
3,0 – 10,0 mm |
10,0 – 30 mm |
Powtarzalność |
du <40: 4% lub >0.4 |
du >40: 6% lub >0.6 |
Odtwarzalność |
du <40: 6% lub >0.6 |
du >40: 8% lub >0.8 |
Krzywizna obiektu |
promień r > 500 mm |
Minimalna wielkość próbki |
35 mm X 150 mm |
Długość skanu |
5 / 10 / 20 cm |
Rozdzielczość |
375 punktów/cm |
Pamięć |
10 000 odczytów, 100 serii testowych |
Interfejs |
USB, opcjonalnie WiFi |
Źródła światła |
dioda laserowa, LED i IR-SLED |
Moc lasera |
<1 mW (laser klasy 2) |
Wymiary |
150 X 110 X 55 mm |
Waga |
650 g |
Zasilanie |
zestaw akumulatorów lub 3 baterie paluszkowe (alkaliczne lub ładowalne), wystarczające na 1000 pomiarów |
Zakres temperatur |
praca: +10ºC do 40ºC, +50ºF do 104ºF; |
magazynowanie: 0ºC do 60ºC, +32ºF do 140ºF |
Wilgotność względna |
do 85% przy 35ºC, bez kondensacji |