wave-scan 3 dual

Strukturomierz do pomiaru na powłokach o wysokim i średnim połysku

Producent:BYK-Gardner GmbH

Obiektywna ocena skórki pomarańczowej oraz DOI na powierzchniach o wysokim i średnim połysku

Wygląd powierzchni zmienia się w zależności od wielkości i wyrazistości struktur powierzchni. Urządzenie wave-scan 3 dual pozwala na obiektywną ocenę skórki pomarańczowej na powierzchniach o wysokim połysku. Urządzenie wave-scan 3 dual skanuje profil optyczny powierzchni za pomocą laserowego źródła światła. Profil ten analizowany jest przy 5 zakresach długości fal od 0,1 do 30 mm (Wa-We). Ponadto wykonywane jest zdjęcie z kamery, aby ocenić właściwości powierzchni spowodowane przez najmniejsze struktury <0,1 mm (du). W ten sposób symuluje się
postrzeganie ludzkiego oka z bliskiej odległości (~ 30 cm) i dużej odległości (~ 2-3 m). Rezultatem pomiaru jest spektrum struktury, które jest podstawą do obliczenia specyficznych parametrów na skalach dedykowanych grupom klienckim dla skórki pomarańczowej oraz współczynnika DOI.

Nowy sposób filtrowania profilu optycznego został opracowany we współpracy z VW/Audi, przy zastosowaniu
metody szybkiej transformacji Fouriera (FFT). Pozwala ona określić intensywność i rozmiary dominujących fal
struktury. Badania korelacji z wrażeniem wizualnym potwierdziły, że obserwatorzy mogą dobrze różnicować
próbki na podstawie dominujących długości fal.

Kolejna generacja urządzeń wave-scan

Nowa generacja wave-scan 3 to nowa konstrukcja z zastosowaniem wyjątkowo dużego, kolorowego wyświetlacza dotykowego oraz intuicyjnym menu umożliwiającym pracę jak ze zwykłym smartfonem. Urządzenie wyposażone zostało w super-szybki układ obliczeniowy co znacznie skraca czas pomiaru, usprawniając znacząco pracę. Długa żywotność baterii optymalizuje czas użytkowania, dzięki czemu można mierzyć wiele samochodów na linii
lub w terenie.

Analiza danych i raporty SPC

Dzięki dołączonemu oprogramowaniu smart-chart można prowadzić analizę danych produkcyjnych na bieżąco oraz szybko tworzyć raporty SPC.

Specyfikacje techniczne
Zakres pomiarowy
DOI du LW, SW Wa – We
0 – 100 0 – 1000 0 – 100
Spektrum struktury
du Wa Wb Wc Wd We
<0.1 0.1 – 0,3 mm 0,3 – 1,0 mm 1,0 – 3,0 mm 3,0 – 10,0 mm 10,0 – 30 mm
Powtarzalność du <40: 4% lub >0.4
du >40: 6% lub >0.6
Odtwarzalność du <40: 6% lub >0.6
du >40: 8% lub >0.8
Krzywizna obiektu promień r > 500 mm
Minimalna wielkość próbki 35 mm X 150 mm
Długość skanu 5 / 10 / 20 cm
Rozdzielczość 375 punktów/cm
Pamięć 10 000 odczytów, 100 serii testowych
Interfejs USB, opcjonalnie WiFi
Źródła światła dioda laserowa, LED i IR-SLED
Moc lasera <1 mW (laser klasy 2)
Wymiary 150 X 110 X 55 mm
Waga 650 g
Zasilanie zestaw akumulatorów lub 3 baterie paluszkowe (alkaliczne lub ładowalne), wystarczające na 1000 pomiarów
Zakres temperatur praca: +10ºC do 40ºC, +50ºF do 104ºF;
magazynowanie: 0ºC do 60ºC, +32ºF do 140ºF
Wilgotność względna do 85% przy 35ºC, bez kondensacji